多通道测量
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受到大数据、物联网、移动联网、社交和医疗软件平台等趋势的驱动,数据速率正在不断增长,而半导体和硬件解决方案的处理能力和复杂性需要不断适应新的要求。随着带宽和速度的增加,越来越多的信号需要 SI 分析,而且只有通过最高精度的测量解决方案,半导体开发和信号完整性专家才能实现电子线路和其他封装结构的电气性能的优化,而这些结构则是用来在电子产品内传递信号的。
HUBER+ SUHNER 提供了广泛的高端射频测试元件和组件,其是针对高速数字测试而开发和优化的。我们代表的是最高密度、最低损耗、最高性能的同轴到 PCB 过渡和电缆的解决方案。我们的解决方案包括广泛的技术支持、3D 文件库、电子模型数据和客户专用的优化模式等。有了我们独特的单通道 MMPX 解决方案,您的测量可以达到 80GBps(80GHz),而我们的 MXP multicoax 解决方案允许进行 8 到 16 个通道的测量,频率高达 18、40 或 50GBps。